芯片測試冷熱沖擊檢測實驗箱符合標準：

1、GB 10589-89 低溫試驗箱技術條件2、GB 10592-89 高低溫試驗箱技術條件3、GB/T5170.2-1996 電工電子產品環(huán)境試驗設備基本參數檢定方法 溫度試驗設備4、GB/T2423.1-2008(IEC60068-2-1：2007) 《低溫試驗方法Ab》5、GB/T2423.2-2008(IEC60068-2-2：2007) 《高溫試驗方法Bb》

6、GJB150.3A-2009裝備實驗室環(huán)境試驗方法第3部分：高溫試驗

7、GJB150.4A-2009裝備實驗室環(huán)境試驗方法第3部分：低溫試驗

8、GJB150.5-1986溫度沖擊試驗

芯片測試冷熱沖擊檢測實驗箱性能參數參考如下：

一、低溫沖擊可選擇溫度范圍：A-20℃;B-40℃;C:55℃;D:-65℃（廠家還免費配高溫至150度）。

二、溫度偏差：±2℃。

三、溫度波動度：±0.5℃。

四、溫度恢復時間：≤5min。

五、溫度恢復條件：高溫150℃曝露30min低溫-20℃曝露30min，高溫150℃曝露30min低溫-40℃曝露30min，高溫150℃曝露30min低溫-55℃曝露30min，高溫150℃曝露30min低溫-65℃曝露30min。

六、溫度沖擊轉移方式：采用氣動驅動。   

七、高溫室儲溫的升溫時間：30min (+25℃～+200℃)。

八、低溫室儲溫的降溫時間：65min (+25℃～-75℃)。

九、低溫沖擊試驗機|低溫沖擊機|沖擊試驗機工作時的噪音：（dB）≤65( 標準規(guī)定≤65分貝不算噪音）

十、型號             內箱尺寸（mm)             外箱尺寸（mm）           功率（kw)

LQ-TS-49       W360×H350×D400        W1550×H1730×D1440           18.5       

LQ-TS-80       W500×H400×D400        W1650×H1830×D1500           23.0

LQ-TS-150      W600×H500×D500        W1750×H1930×D1570           28.0

LQ-TS-225      W500×H750×D600        W1450×H2100×D1670           34.0

LQ-TS-408      W750×H800×D800        W1550×H2150×D1900           42.0